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點(diǎn)擊量：發(fā)布時(shí)間：2025-05-30 10:43
磁通計(jì)通過測量磁體的整體平均值，而非單一測試點(diǎn)，從而克服了高斯計(jì)的點(diǎn)測試局限性。
高斯計(jì)是一種常用的磁場測量儀器，它可以測量磁性材料或物體表面的磁場強(qiáng)度，通常以高斯（Gs）為單位。然而，高斯計(jì)存在一些局限性，例如它的測量結(jié)果受到探頭位置、探頭芯片的厚度和位置等因素的影響，而且由于磁體表面磁場的不均勻性，高斯計(jì)的測量結(jié)果可能會有很大偏差。此外，不同廠家生產(chǎn)的高斯計(jì)可能存在測量值不一致的問題。
相比之下，磁通計(jì)則是通過測量磁體的整體平均值來反映磁體的整體性能。它利用電子積分原理，通過線圈檢測磁性材料或物體的整體性能，單位通常是韋伯（Wb）。磁通計(jì)的優(yōu)點(diǎn)在于它可以提供更加穩(wěn)定和可比的測量結(jié)果，因?yàn)樗菧y量整個(gè)磁體的磁通量，而不是單一測試點(diǎn)的磁場強(qiáng)度。這樣，即使磁體表面的磁場分布不均勻，磁通計(jì)也能給出一個(gè)代表磁體整體性能的平均值